Microscopios Nikon Eclipse Ni-E
Características Clave
 

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Microscopio Nikon Eclipse Ni E
  Características Clave

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Máxima expansión del sistema
Motorización Avanzada
Desempeño Óptico Mejorado
Poderosas Capacidades de Imagen Digital
Nuevo Diseño Aerodinámico

Máxima expansión del sistema

Aplicaciones NI E

Usando el núcleo de la tecnología del reconocido microscopio invertido el Nikon Ti, el modelo Ni-E ofrece una versátil expansión del sistema multimodo para acomodarse a un amplio rango de posibilidades de imagen.

El diseño propietario de "estructura de estratos" y la expansión al espacio infinito permite la adición de varias torretas, detectores, entradas láser y otros accesorios.

El Ni-E también es configurable para imagen multifotónica, así como configuraciones de platina fija para las demandas de las aplicaciones del área de neurociencias.

 

 Motorización Avanzada

Desempeño optico superiorLos nuevos objetivos de Nikon CFI Plan Apocromático Lambda se incluyen con el sistema. Estos objetivos fueron producidos con la exclusiva tecnología Nikon de Recubrimiento de Nano Cristales, que ofrece una destacada alta transmisión y corrección de aberración cromática superior a través de un amplio rango de longitudes de onda y son apropiados para la observación cercana al IR.

  Desempeño Óptico Mejorado

Ajustes Nikon Ni E

El Ni-U está equipado con la tecnología de eliminación de ruido, que usan cubos de filtro fluorescente y torretas que eliminan la luz directa, habilitando la captura de imágenes fluorescentes de alto contraste con altos cocientes S/R.

 Poderosas Capacidades de Imagen Digital

Boton de captura Ni USin apartar sus ojos de los oculares, simplemente presiones el botón de captura convenientemente ubicado, para capturar imágenes digitales de alta resolución en su servidor, PC, y varios tipos de medios digitales.

 Nuevo Diseño Aerodinámico
Platina recubierta de ceramicaRecubierta con una durable capa de cerámica, la platina del Ni-U facilita el ajuste de la dirección óptica de las imágenes DIC y la investigación de las propiedades polarizantes de las muestras.
 
   
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