Nikon Metrología Microscopio Electrónico de Escaneo SEM
 
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El Microscopio Electrónico de Escaneo de próxima generación

nikon metrología microscopios electrónicos de barrido electrónico de barrido JCM 7000JEOL NeoScope JCM-7000 SEM

 

Las funciones automáticas altamente avanzadas, la automatización de platina y el software del JCM-7000 permiten un análisis elemental y de imágenes de muestra fáciles para usuarios de todos los niveles de experiencia.

 

Equipado con una cámara grande para muestras, modos de operación de alto y bajo vacío, detectores de electrones secundarios y de retrodispersión (SED y BSED), imágenes 3D en tiempo real, herramientas de metrología fáciles de usar y EDS opcional totalmente integrado. El NeoScope JCM-7000 es INTELIGENTE - FLEXIBLE - POTENTE.

 

INTELIGENTE - FLEXIBLE - POTENTE

  • Inteligente: las últimas innovaciones están integradas en la plataforma de sobremesa para que el SEM sea accesible para todos. Todos los controles están al alcance de la mano del usuario a través de una interfaz de software intuitiva. La configuración automática de la condición se basa en el tipo de muestra y la aplicación para la formación de imágenes en minutos. La navegación fluida desde el soporte del gráfico o la imagen óptica (opcional) a la imagen SEM de alta resolución mejora la productividad.

  • Flexible: elija la plataforma adecuada. Agregue opciones como el sistema de navegación por platina (cámara en color), el soporte motorizado de rotación de inclinación para la manipulación de muestras, EDS totalmente integrado para el análisis elemental y el mapa de Smile View para la reconstrucción de imágenes en 3D y el análisis de la textura de la superficie.

  • Potente: la fuente de filamento de tungsteno (W) de alta resolución permite una ampliación de hasta 100.000X. La cámara analítica grande puede manejar muestras de hasta 80mm (D) x 50mm (H). Los detectores de electrones secundarios y de retrodispersión junto con los modos de funcionamiento de alto y bajo vacío permiten el estudio de una amplia variedad de tipos de muestras. El detector BSE admite imágenes 3D en vivo para un conocimiento intuitivo de la forma de la superficie de la muestra.

Características

  • Zeromag: simplifica la navegación y mejora el rendimiento al proporcionar una transición perfecta desde una imagen de cámara en color (opción) o un gráfico de soporte a la imagen SEM en vivo.

  • Montaje: la capacidad de configurar uniones de imágenes automatizadas y mapas EDS de montaje automatizados.

  • Múltiples modos de imágenes en vivo: imágenes SE y BSE simultáneas e incluye mezcla de señales con el control del usuario de la contribución de cada detector.

  • Fácil instalación: este sistema es compatible con una toma de corriente estándar (no se requiere un circuito especial).

  • SmileView ™ Lab - Central: el software de gestión de datos vincula la imagen SNS (óptica), las imágenes SEM y los resultados y ubicaciones del análisis EDS. Diseño de reporte inteligente.

Beneficios y características

 

Mayor eficiencia en el trabajo

 

¿Cuál es el material extraño que se observa por primera vez con el microscopio óptico? ¿Hay problemas con la forma de la pieza? ¿La materia prima estaba contaminada o fuera de especificación? Confirme rápidamente la morfología y la composición (elementos constituyentes), que no se pueden identificar completamente con un microscopio óptico solo.

 

Aumento de la eficiencia: ejemplo - Control de calidad

Con el SEM es posible observar una vista de contraste de composición que no se puede ver en una imagen óptica, por lo que incluso con el mismo aumento, se puede obtener más información. La observación y el análisis se pueden realizar sin pretratamiento de la muestra utilizando el modo de bajo vacío.


Transición perfecta de imágenes ópticas a SEM

Zeromag (accesorio opcional)

Se adquiere automáticamente una imagen óptica cuando se inserta la muestra. Busque el campo de visión en la imagen óptica, luego amplíe el objetivo para cambiar automáticamente a una imagen SEM. Moverse a la posición de observación es fácil para una rápida adquisición de imágenes SEM con un número mínimo de pasos.

sem muestra olivo
  Ejemplo de hoja de acebo Hoja de olivo de acebo a 100μm y 10μm.
   
Además del modo de alto vacío para la observación SEM más clara de la morfología de la superficie, el JCM-7000 también está equipado con dos modos de presión LV más para permitir la visualización y la obtención de imágenes de varias muestras no conductoras sin tratamiento previo.
  Ejemplo de roca de sal Roca de sal a 500μm y 10μm. Modo de bajo vacío (LV)

SEM EDSTransición perfecta de imágenes SEM a análisis EDS

 

Con Live Analysis, la observación SEM y el análisis EDS ya no son pasos separados. El espectro de rayos X con los principales elementos constituyentes se muestran en tiempo real en la pantalla de observación.

 

El JCM-7000 también incluye Live Map para ver la distribución espacial de los elementos en tiempo real. Live Map aumenta la probabilidad de encontrar los elementos de interés además de detectar elementos inesperados.


Creación de informes y gestión de datos simples

 

SMILE VIEW Lab es un programa de software de administración de datos totalmente integrado que vincula las imágenes ópticas, SEM SMILE VIEW Lab es un programa de software de gestión de datos totalmente integrado que enlaza las imágenes ópticas, las imágenes SEM, los resultados del análisis EDS y las coordenadas de platina correspondientes para una rápida generación de informes o recuperación de la posición de la muestra y las condiciones de SEM para su estudio adicional.

 

Creación de informes por lotes

En la pantalla de gestión de datos, los usuarios pueden revisar o volver a analizar los datos, así como generar informes por lotes a partir de todos los datos, imágenes SEM a través del análisis. La pantalla de gestión de datos se puede abrir utilizando el botón de administración de datos o desde la lista de datos medidos. Una vez seleccionados los datos, se puede generar un informe con un solo clic. Los informes se pueden exportar a PDF, Microsoft Word o PowerPoint®.

Especificaciones

El aumento está definido

x 10 a 100,00

El aumento está definido por 128mm x 96mm

Ampliación de pantalla

x 24 a 202,168

El aumento está definido 280mm x 210mm

Modo

Modo de alto vacío: imagen de electrones secundarios, imagen de electrones retrodispersos (composición, topografía y sombra, imágenes en 3D)

Modo de vacío bajo: imagen de electrones retrodispersos (composición, topografía y sombra, imágenes en 3D)

Voltaje de aceleración

5kV, 10kV, 15kV (3 etapas)

Fuente de electrones

Filamento de tungsteno/Rejilla Wehnelt integrada

Platina de especimenes

Platina de accionamiento del motor X-Y

X: 40mm Y: 40mm

Tamaño máximo de la muestra

80mm de diámetro x 50mm de altura

Intercambio de muestras

Mecanismo de extracción

Píxeles para la adquisición de imágenes

540 x 480; 1,280 x 960

2,560 x 1,920; 5,120 x 3,480

Funciones automáticas

Alineación, enfoque, estigmador, brillo/contraste

Funciones de medición

Distancia entre 2 puntos, ángulos, línea, ancho

Formato de archivo

BMP, TIFF, JPEG, PNG

Computadora

PC de escritorio Windows® 10

Monitor

24 pulgadas

Sistema de vacío

Totalmente automático TMP: 1, RP: 1

Requerimientos de instalación

Fuente de alimentación

CA monofásica 100V (se admiten 120V, 220V, 240V) 50/60 Hz

Máximo 700VA

(CA 10V), 840VA (CA 120V)

880 VA (220V CA), 960VA (240V CA)

Tolerancia de variación de tensión

90 a 110 V con tensión de alimentación de 100 V

108 a 132 V con tensión de alimentación de 120 V

198 a 242 V con una tensión de alimentación de 220 V

216 a 250 V con tensión de alimentación de 240 V

Toma de tierra

Cuarto de instalación

Temperatura: 15 a 30 ° C

Humedad: 30 a 60% RH (sin condensación)

Campos magnéticos parásitos: 0,3μT o menos (50/60 Hz, onda sinusoidal)

Escritorio: 100 kg o más, con rigidez

Dimensiones de la unidad principal

(W) 324mm x (D) 586mm x (H) 566mm

Peso de la unidad principal

67kg


Catálogos      
Catalogo instrumentos industriales SEM JEOL 7000    
Instrumentos Industriales JEOL NeoScope 7000    
 
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